CK-SWWK022-220-230-ALV2
- 高清晰、低畸变、高远心度，特别适合高精度 AOI及定位应用；
- 长工作距规格便于照明与机台部件布置；
产品参数
外形尺寸
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| 光学参数 | |
| 放大倍率 β(x) | 0.22 |
| 物方工作距 WD(mm) | 220±2 |
| 支持 CCD 尺寸 (Φmm) | 11.0(2/3″) |
| 像方 F/# | 6.9 |
| 像方 MTF30 (lp/mm) | ≥ 130 |
| 物方景深 DoF(mm) | ±5.7@F6.9 |
| 物方分辨率 (μm) | 21.0 |
| 数值孔径 NA | 0.01595 |
| 像方畸变 (% max) | ≤ 0.05 |
| 物方远心度 (° max) | ≤ 0.05 |
| 视野范围 (mm x mm) | |
| 1/1.8″ EV76C570 (7.2×5.4) | 32.7×24.5 |
| 1/1.7″ IMX226 (7.5×5.6) | 34.1×25.5 |
| 2/3″ IMX250/264 (8.45×7.1) | 38.4×32.3 |
| 机械参数 | |
| 相机接口 | C |
| 镜头总长 (mm) | 190 |
| 是否同轴光 | 否 |
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